सेवा सामग्री/कार्यक्षेत्र और परीक्षण आइटम
एक। टीईएम पतला-अनुभाग नमूने
दोहरे {{0}बीम केंद्रित आयन बीम माइक्रोस्कोपी (डीबी-एफआईबी) का एक महत्वपूर्ण अनुप्रयोग ट्रांसमिशन इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी (टीईएम) के लिए अल्ट्राथिन नमूनों की तैयारी है। GRGTEST मेट्रोलॉजी इस एप्लिकेशन के लिए निम्नलिखित परीक्षण आइटम प्रदान कर सकती है:
सेवा सामग्री
|
परीक्षण आइटम |
कोटेशन इकाई |
नमूना प्रकार |
|
सिलिकॉन (Si) आधारित नमूना XS (क्रॉस-सेक्शन) नमूना तैयार करना |
प्रत्येक (ईए) |
14एनएम और उससे कम पर उन्नत प्रक्रिया चिप्स; 28nm, 40nm, 55nm और इससे ऊपर के चिप्स |
|
सिलिकॉन (Si) आधारित नमूना पीवी (योजना-देखें) नमूना तैयार करना |
प्रत्येक (ईए) |
14एनएम और उससे कम पर उन्नत प्रक्रिया चिप्स; 28nm, 40nm, 55nm और इससे ऊपर के चिप्स |
|
गैर-सिलिकॉन आधारित नमूना XS (क्रॉस-सेक्शन) नमूना तैयार करना |
घंटा (एच) |
गैलियम आर्सेनाइड (GaAs), गैलियम नाइट्राइड (GaN), सिलिकॉन कार्बाइड (SiC), आदि सहित गैर-{0}}सिलिकॉन आधारित नमूने। |
|
गैर-सिलिकॉन आधारित नमूना पीवी (योजना-देखें) नमूना तैयार करना |
घंटा (एच) |
गैलियम आर्सेनाइड (GaAs), गैलियम नाइट्राइड (GaN), सिलिकॉन कार्बाइड (SiC), आदि सहित गैर-{0}}सिलिकॉन आधारित नमूने। |
|
विशेष नमूना तैयार करना |
घंटा (एच) |
विभिन्न नई सामग्री के नमूने, जिनमें लिथियम बैटरी सामग्री, ग्राफीन इलेक्ट्रोड सामग्री आदि शामिल हैं। |
बी। एफए हॉटस्पॉट क्रॉस-सेक्शन विश्लेषण
|
परीक्षण आइटम |
कोटेशन इकाई |
नमूना प्रकार |
|
एफए हॉटस्पॉट क्रॉस {{0}सेक्शन विश्लेषण (ओबीआरसीएच जैसी विधियों द्वारा कैप्चर किए गए हॉटस्पॉट सहित; हॉटस्पॉट कैप्चर सहित एक स्टॉप परीक्षण उपलब्ध है) |
घंटा (एच) |
सेमीकंडक्टर नमूने: वेफर, आईसी, घटक, एमईएमएस, लेजर, आदि। |
सी। पारंपरिक क्रॉस-सेक्शन प्रसंस्करण
|
परीक्षण आइटम |
कोटेशन इकाई |
नमूना प्रकार |
|
लक्षित क्रॉस-सेक्शन प्रोसेसिंग |
घंटा (एच) |
सेमीकंडक्टर नमूने: वेफर, आईसी, घटक, पीसीबी, एमईएमएस, लेजर, आदि; अन्य गैर - सेमीकंडक्टर नमूने |
|
गैर-लक्षित क्रॉस-अनुभागीय प्रसंस्करण |
घंटा (एच) |
सेमीकंडक्टर नमूने: वेफर, आईसी, घटक, पीसीबी, एमईएमएस, लेजर, आदि; अन्य गैर - सेमीकंडक्टर नमूने |
परीक्षण चक्र
मानक परीक्षण चक्र 3 कैलेंडर दिन है। विशेष आवश्यकताओं के लिए, हम 48 घंटे, 24 घंटे और 12 घंटे के विभिन्न प्रतिक्रिया समय के साथ उद्धरण प्रदान कर सकते हैं।
हमारे फायदे
GRGTEST मेज़रमेंट की टीम के सदस्यों के पास उन्नत वेफर निर्माण प्रक्रियाओं में प्रासंगिक अनुभव है। हम ग्राहक केंद्रित दृष्टिकोण का पालन करते हैं और सटीक, समय पर और व्यापक परीक्षण सेवाएँ प्रदान करने के लिए प्रतिबद्ध हैं।
GRGTEST मापन चीन में सूचीबद्ध सबसे बड़ी राज्य स्वामित्व वाली तीसरी पार्टी परीक्षण कंपनी है। हमारे प्लेटफ़ॉर्म में एक मजबूत प्रबंधन तंत्र और व्यापक पूर्ण प्रक्रिया परीक्षण और विश्लेषण क्षमताएं हैं, जो हमें ग्राहकों को संपूर्ण परियोजनाओं के लिए समय पर और आधिकारिक विश्लेषण प्रदान करने में सक्षम बनाती हैं।
नमूना आवश्यकताएँ
निर्जल; नमूनों में कोई तरल घटक नहीं होना चाहिए; आयन किरण विकिरण के तहत स्थिर (कुछ कार्बनिक नमूनों का पता नहीं लगाया जा सकता); आयाम आम तौर पर 10 सेमी * 10 सेमी * 5 सेमी (लंबाई * चौड़ाई * ऊंचाई) से अधिक नहीं होते हैं।
लोकप्रिय टैग: डीबी -फाइब (डुअल-बीम केंद्रित आयन बीम), चीन डीबी{2}फाइब (डुअल-बीम केंद्रित आयन बीम) सेवा प्रदाता
